Ngày 27 tháng 10 năm 2022, Trung Tâm Công nghệ Vi điện tử và Tin học (Trung tâm IMET) tổ chức buổi làm việc với Công ty AMETEK Singapore để hợp tác phát triển Dịch vụ thí nghiệm tương thích điện từ – EMC.
Tại buổi làm việc, ông Nguyễn Huy Công – Giám đốc Trung tâm IMET đã giới thiệu đơn vị và năng lực cung cấp các dịch vụ của Phòng thí nghiệm điện từ trường (EMC 3M).
(Buổi làm việc giữa Trung tâm IMET và Công ty AMETEK Singapore)
Sau khi nắm được các thông tin về hiện trạng và năng lực của Trung tâm IMET và Phòng thí nghiệm EMC 3M, đại diện Công ty AMETEK Singapore, ông Yeoh Zee How đã chia sẻ một số tác động tiêu cực của điện từ phát ra từ các thiết bị điện đến sức khoẻ con người, vật nuôi và môi trường.
Một số minh hoạ về hiệu ứng phát từ trường từ các thiết bị điện
(Hiệu ứng phát từ trường thiết bị không dây)
(Hiệu ứng phát từ trường qua dây dẫn)
(Hiệu ứng phát từ trường thiết bị dân dụng)
(Hiệu ứng phát từ trường thiết bị truyền hình)
Bên cạnh đó ông Yeoh Zee How cũng giới thiệu một số giải pháp và thiết bị do Công ty AMETEK Singapore phát triển có thể phù hợp và bổ sung hoàn thiện các dịch vụ mà Phòng thí nghiệm EMC 3M đang triển khai:
Thiết bị điện gia dụng, dụng cụ điện và thiết bị tương tự: thử nghiệm nhiễu dẫn tại đầu nối điện lưới/ tải/ bổ sung, thử nhiễu không liên tục, thử công suất nhiễu, thử nhiễu bức xạ, thử miễn nhiễm phóng tĩnh điện, thử miễn nhiễm trường điện từ bức xạ, thử miễn nhiễm bứu/ quá độ nhanh về điện, thử miễn nhiễm với sự đột biến, thử miễn nhiễm với nhiễu dẫn, thử miễn nhiễm sụt điện áp, thử gián đoạn ngắn hạn và thay đổi điện áp.
Thiết bị công nghệ thông tin, vô tuyến điện: thử nghiệm nhiễu dẫn tại cổng điện lưới, thử nhiễu dẫn tại cổng viễn thông, thử nhiễu bức xạ, thử miễn nhiễm phóng tĩnh điện, thử miễn nhiễm trường điện từ bức xạ, thử miễn nhiễm bứu/ quá độ nhanh về điện, thử miễn nhiễm với sự đột biến, thử miễn nhiễm với nhiễu dẫn, thử miễn nhiễm từ trường tần số nguồn, thử miễn nhiễm sụt điện áp, thử gián đoạn ngắn hạn và thay đổi điện áp, thử miễn nhiễm với sóng dao động.
Thiết bị chiếu sáng: thử nghiệm nhiễu dẫn tại đầu nối điện lưới/ tải/ điều khiển, thử dòng điện cảm ứng từ, thử nhiễu điện từ bức xạ, thử miễn nhiễm phóng tĩnh điện, thử miễn nhiễm trường điện từ bức xạ, thử miễn nhiễm bứu/ quá độ nhanh về điện, thử miễn nhiễm với sự đột biến, thử miễn nhiễm với nhiễu dẫn, thử miễn nhiễm sụt điện áp, thử gián đoạn ngắn hạn và thay đổi điện áp.
Cũng trong buổi làm việc, ông Yeoh Zee How đã đề xuất chủ đề liên quan đến “Mạng lưới các trạm nạp điện cho phương tiện xe máy điện, xe đạp điện, ô tô điện” để hai bên cùng nghiên cứu và triển khai hợp tác trong thời gian tới.
(Một số hình ảnh mô tả cơ sở hạ tầng và xe điện)
Nguồn: Trung tâm Công nghệ Vi điện tử và Tin học